製品紹介

<熱解析>

ELITE
性能がより向上した
ロックインサーマル
エミッション

ELITE

<歩留まり向上>

Meridian WaferScan
裏面ウェファーレベルの
解析

Meridian WaferScan

<電気回路故障解析>

Meridian-IV
故障箇所特定による
ダイナミック故障解析

Meridian-IV

TriVision
多目的回路故障欠陥解析

TriVision

<回路修正>

OptiFIB-IV
最新型裏面回路修正装置

OptiFIB-IV

P3X-IV
精密回路修正装置

P3X-IV

<設計検証>

Ruby
設計検証・タイミング解析用のLASERプローブシステム

Ruby

EmiScope-III
設計検証とタイミング解析用の時間解析型エミッション
顕微鏡

EmiScope-III

<ナビゲーションとデータ解析>

NEXS
ナビゲーションと解析データの相関付け

NEXS

ページトップへ