2011 LSIテスティングシンポジウム
- 開催概要
-
- 「第31回 LSIテスティングシンポジウム」 (※公式サイトへ)
- <日時> 2011年 11月9日(水) ～ 2011年 11月11日(金)
- <場所> 千里ライフサイエンスセンター（大阪府豊中市千里中央）
- プログラム・講演内容
-
- ＜11月9日（水） 14：50～（16）＞
- サーマル技術を応用した非破壊故障解析へのチャレンジ 戸田 徹
-
- ＜11月9日（水） 14：15～ ポスターセッション ：6F 千里ルームにて＞
- Full Thickness silicon trenching technique for advanced backside circuit edit
-
- ＜11月11日（金）10：45～（46）＞
- ロックインサーモグラフィによるアバランシェ耐最低下 IGBT の不良非破壊同定の検討
-
- ＜11月11日（金）11：25～（48）＞
- ロックインサーモグラフィによるデンドライトの非破壊検出
※ご質問・お問い合わせは、メール 又はお電話ください。
DCGシステムズ ソリューション部 茂木 忍 <TEL : 045-478-7005>
