DCGシステムズ

<開会の挨拶>

DCGシステムズ株式会社 代表取締役 戸田 徹

<開会の挨拶>

DCGシステムズ株式会社 代表取締役 戸田 徹

<Introduction>

DCG Systems, Inc.  CEO　Israel Niv, PhD

<Introduction>

DCG Systems, Inc.  CEO　Israel Niv, PhD

<講演内容>

トヨタ自動車のパワーデバイス解析手法の紹介

<講演者>

LSIテスティング学会　企画運営委員

アナログ＆パワーデバイス解析研究会運営委員

トヨタ自動車株式会社　後藤安則 様

<講演内容>

ELITEの紹介およびプロダクトアップデート

<講演者>

DCGシステムズ(株) 戸田 徹

<講演内容>

ELITEプロダクトアップデート＆最新事例紹介

<講演者>

DCGシステムズ(株) 戸田 徹

<講演内容>

海外における発熱解析の動向

<講演者>

Thermosensorik GmbH  Dieter Karg

<講演内容>

22ナノプロセス対応裏面回路修正用FIB

<講演者>

DCGSystems Inc マーケティング　穴山為康

<講演内容>

発熱法とX線CTの組合せによる、非破壊チップ内
クラック箇所特定手法の検討

<講演者>

株式会社 東芝 セミコンダクター社 村上 浩明様

<講演内容>

回路修正用FIBロードマップ・プロダクトアップデート

<講演者>

DCGSystems Inc マーケティング　穴山為康

<講演内容>

発熱解析装置(ELITE)を用いた
半導体故障解析の事例

<講演者>

ルネサスエレクトロニクス株式会社 小松宗雄様

<講演内容>

CW-LVP・LVI　基礎評価結果

<講演者>

ルネサスエレクトロニクス株式会社
生産本部デバイス・解析技術統括部　和田慎一様

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

- 昼食 -

- コーヒーブレイク -

<講演内容>

先端半導体パッケージ不具合の
非破壊不良解析事例

<講演者>

カシオマイクロニクス株式会社　松崎富夫様

<講演内容>

CW-LVI/LVPスキャンシフトデバッグへの活用事例紹介

<講演者>

DCGシステムズ(株) 茂木　忍

<講演内容>

ELITEとX線CTコンビネーションによる解析
ソリューションのご提案

<講演者>

丸文株式会社　清宮直樹様

<講演内容>

ファウンドリにスキャンシフト不良の解析を実施させる取り組みに関して

<講演者>

DCGシステムズ(株) 諸橋賢治

<講演内容>

最先端３次元X線CTと解析事例の紹介

<講演者>

株式会社 ユニハイトシステム 渡辺拓平様

<講演内容>

ｎプローバー　プロダクトアップデート紹介

<講演者>

DCGシステムズ(株) 高橋謙一

- コーヒーブレイク -

<デモ>

ELITE　実機デモ

<終わりの挨拶>

DCGシステムズ(株) 戸田 徹