半導体製品の設計デバッグ/欠陥解析/歩留まり改善の為にソリューションを提供する、不良解析装置メーカー
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2012年5月10日
2012 DCGユーザーフォーラムの参加申し込みを開始しました。
2012年3月7日
2012 DCGユーザーフォーラム開催日程が、6月28日・6月29日に決まりました。
2012年1月11日
「第29回エレクトロテスト・ジャパン」にてELITEの紹介をします。(丸文株式会社 ブース: 東4ホール No.50-10
2011年11月25日
「セミコンジャパン2011」にてELITEの紹介をします。(丸文株式会社ブース: 8ホール No.8A-310 )
2011年10月26日
「第31回 LSIテスティングシンポジウム」に出展します。
2011年09月27日
DCGシステムズは、丸文㈱主催の『非破壊検査・解析フォーラム』にて 「ELITE3Dによる深さ方向の位置特定技術」についてご紹介します。(東京・名古 屋・大阪・福岡)
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